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硅片测厚仪(HS-WTT)
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产品: 浏览次数:0硅片测厚仪(HS-WTT) 
单价: 面议
最小起订量: 1 台
供货总量: 1 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2015-08-13
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详细信息

硅片测厚仪(HS-WTT) 
适用于量程范围内的硅片等各种材料的厚度精确测量。
特征
液晶显示
接触式测量
手动测量模式
数据实时显示
具有输出接口,可选配适配器实现232接口功能
技术指标
测量范围:0~12.7mm
分辨率:0.001mm
外形尺寸:300mm(L)×200(B)×340mm(H)
净重:20kg
标准
GB/T 1876-2007
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